
Zeiss Sigma 500、GeminiSEM 系列采用 镜筒内二次电子检测器(InLens Detector),安装在物镜上方镜筒内,利用静电透镜收集通过物镜的二次电子,实现超高分辨率成像(可达 0.7nm 级)。InLens 检测器由静电收集极(Collector)、闪烁体(Scintillator)、光导管与 PMT 组成,结构精密,属贵重配件,损坏更换成本高。
适用配件(中英文对照):InLens 检测器组件 InLens Detector Assembly / 静电收集极 Electrostatic Collector / 闪烁体 Scintillator / 光导管 Light Guide / 光电倍增管 PMT / 前置放大器 Preamplifier。零件编码以原厂备件手册为准。
故障表现:切换 InLens 模式无图像,SE2/ET 检测器正常。
排查流程:① 检查 InLens 检测器是否启用;② 检查收集极电压;③ 检查信号链路与 PMT 供电;④ 检查软件设置。
处理:供电与链路正常仍无信号,判定检测器组件损坏需更换。
故障表现:InLens 模式高倍图像发灰、细节丢失,未达标称分辨率。
排查流程:① 检查物镜光阑与对中;② 检查收集极污染;③ 检查镜筒真空;④ 做金颗粒标样测试。
处理:污染需专业清洁,性能持续下降考虑检测器老化更换。
故障表现:图像出现暗斑、局部无信号区域、亮度不均。
排查流程:① 检查收集极表面污染;② 检查闪烁体端面;③ 检查镜筒内挥发物。
处理:专业拆洗收集极与闪烁体,严重污染或涂层损伤需更换。
故障表现:检测器物理损伤、闪烁体碎裂、高压打火、信号彻底消失。
排查流程:① 拆检目视;② 测量 PMT 与高压模块;③ 检查使用环境与操作记录。
处理:损坏需更换 InLens 检测器组件。
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